电网技术

2018, v.42;No.416(07) 2359-2365

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采用频域介电谱法的高压干式套管屏间局部绝缘劣化诊断
Local Inter-Foil Insulation Deterioration Diagnosis of RIP Bushing Based on Frequency-Domain Dielectric Spectroscopy Method

陈铭;刘轩东;李原;吴治诚;汤浩;李金忠;

摘要(Abstract):

干式套管作为变压器的重要组成部分,屏间局部绝缘劣化时有发生,严重威胁变电站的安全运行。为进一步研究干式套管屏间局部绝缘劣化的现象,构建了实验模型,通过并联电阻的方式模拟了屏间局部绝缘劣化的现象,并基于频域介电谱(frequency-domain dielectric spectroscopy,FDS)对其在室温下进行了相应的诊断。结果表明,随着屏间局部绝缘劣化的发展,套管电容和介质损耗因素的频响曲线存在明显的过渡过程,在绝缘劣化发生的早期,工频检测方法有效性较低,而FDS的有效性则较高,且测量频率越低,对屏间局部绝缘劣化早期缺陷的检出效果越好。此外针对tanδ-f曲线中出现的快速下降段,修正了CIGRE套管模型,计算结果与实验结果一致性较好。

关键词(KeyWords): 频域介电谱;干式套管;屏间局部绝缘劣化;绝缘诊断;模型修正

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家电网公司科技项目(GYB17201600207)~~

作者(Author): 陈铭;刘轩东;李原;吴治诚;汤浩;李金忠;

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DOI: 10.13335/j.1000-3673.pst.2018.0029

参考文献(References):

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