电网技术

2009, v.33;No.305(12) 20-25

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多馈入短路比及多馈入交互作用因子与换相失败的关系
Relationship of Multi-Infeed Short Circuit Ratio and Multi-Infeed Interaction Factor With Commutation Failure

刘建;李兴源;傅孝韬;徐梅梅;贺洋;

摘要(Abstract):

将传统的两端直流系统短路比延伸到多馈入直流系统,建立了多馈入短路比(multi-infeed short circuit ratio,MSCR)表达式。基于CIGRE模型建立了三馈入直流输电模型,分析了与MSCR相关的变量,并结合换相失败免疫因子得出结论:增大多馈入短路比能够降低发生当地换相失败的风险。同时从多馈入交互作用因子的角度分析了发生同时换相失败的规律:减小交互作用因子能够降低同时换相失败的风险。

关键词(KeyWords): 高压直流输电;换相失败(CF);多馈入短路比(MSCR);多馈入交互作用因子(MIIF)

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家重点基础研究专项经费项目(2004CB217901);; “十一五”国家科技支撑计划资助项目(2008BAA13B01);; 国家自然科学基金资助项目(50577044)~~

作者(Author): 刘建;李兴源;傅孝韬;徐梅梅;贺洋;

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参考文献(References):

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