电网技术

2008, No.285(16) 37-42

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污秽绝缘子闪络机理研究综述
Summary of Research on Flashover Mechanism of Polluted Insulators

张志劲;蒋兴良;孙才新;

摘要(Abstract):

文章综述了几十年来国内外对污秽绝缘子闪络机理的研究状况,包括电路模型、能量模型、动态模型、交流电弧重燃条件、电场模型以及低气压下的电弧特性等,并根据真型绝缘子串污闪放电过程的拍摄结果,提出了由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成的低气压下绝缘子长串直流放电数学模型,同时对未来绝缘子污秽闪络机理的研究方向进行了展望,指出真型绝缘子长串放电过程、绝缘子剩余污层电阻、低气压下局部电弧特性的测量等是今后研究的重点。

关键词(KeyWords): 高电压与绝缘技术;污秽绝缘子;闪络机理;绝缘子长串直流放电数学模型

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金资助项目(90210026)~~

作者(Author): 张志劲;蒋兴良;孙才新;

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参考文献(References):

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